Thiết bị

Trang chủ / Scanning Electron Microscope

Scanning Electron Microscope (Tescan VEGA3)

Scanning Electron Microscope (Tescan VEGA3)

Cho phép phân tích:

-          Hình thái bề mặt

-          Cấu trúc thành phần

-          Cấu trúc tinh thể

 -          Quan sát và phân tích các mẫu dẫn điện hoặc không dân điện

 -          Chân không thấp (6~650Pa).

 -          Buồng mẫu kiểu kéo ra (cho mẫu kích thước lớn).

 -          Tích hợp được các đầu dò EDS, EBSD, WDS, CL.

 -          Phân giải: 3.0nm tại 30kV và 7.0nm tại 3kV.

Các tin khác